- Abmessungen (LxBxH): ca. 746 x 675 x 1510 mm
- Arbeitshöhe: ca. 1150 mm
- Gewicht: ca. 185 kg
- Dreiachsportalsystem
- Arbeitsbereich: ca. 340 x 300 x 5 mm
- Ausziehbare Universalmessplattenaufnahme für Messplatten bis ca. 340 x 240 mm
- Kamerasystem mit telezentrischer Optik und einer Bildfeldgröße von 6 x 5 mm
- Durchlichtbeleuchtung
- Radsystem
CmController 9: Neues Design, verbesserte Ergonomie, schneller und genauer als seine Vorgänger
CmController 9
Der CmC9 ist unser High-End-Modell und das neuste Mitglied der CeTaQ CmController Familie. Bei der Entwicklung stand die Erhöhung der Messgeschwindigkeit bei gleichzeitiger Verbesserung der Genauigkeit im Fokus. Sein optimiertes Bedienkonzept verkürzt die Einrichtzeiten. Ein LED-Indikator im Griff erlaubt einen schnelle Blick auf den aktuellen Betriebszustand.
Beim CmC9 ist die CmController Software CmCStat6.0 Expert bereits enthalten. Ihr erweiterter Funktionsumfang ermöglicht z. B. das gleichzeitige Prüfen mehrerer Bestücker in einer Linie. Ferner sind verbesserte Algorithmen bei der Verwendung von Cluster-Layouts enthalten. Beides zusammen bietet die Möglichkeit, das Wartungsfenster optimal zu nutzten, um einen schnellen Überblick über die Bestückgenauigkeit zu bekommen.
Die Software CmCStat6.0 erlaubt der Planung, Analyse und Archivierung von Messungen. Mit dem Expert Level steht ein erweiterter Funktionsumfang zur Verfügung. Dieser erlaubt die Bewältigung vielfältigster Prüfaufgaben.
- Geeignet für die Bestimmung der Positioniergenauigkeit von:
- SMT Bestückern
- SMT Dispensern
- SMT Schablonendruckern
- SMT Laser Labeling Anlagen
- SMT Nutzentrennern
- Gewährleistung der Rückverfolgbarkeit von Messergebnissen durch Dokumentation der Linien und Maschinenkonfiguration in einer Datenbank
- Individuelle Prüfplangestaltung mit regelmäßiger oder freier Anordnung der Prüfpunkte
- Cluster Layouts mit multiplen Chipbauteilen in einem Messfenster zur Erhöhung der Messgeschwindigkeit bei erhöhtem Prüfumfang
- Prüfung von Einzelmaschinen oder simultanes Prüfen mehrerer Maschinen in der gleichen Linie mit gleichem Bauteilspektrum und gleicher Spezifikation
- Verwendung von realen und idealen SMT Bauteilen bzw. Glasdummies
- IPC 9850 kompatible Prüfpläne
- Berücksichtigung unterschiedlicher Kopf/Nozzle/Kamera Konfigurationen bei Prüfplanung und Auswertung
- Unterstützung bei Ursachenfindung für Abweichungen
- Gruppierung von Messwerten bezüglich Zugehörigkeit z.B. zu bestimmten Köpfen
- Umfangreiche grafische Darstellung von Messwerten
- Trendanalysen
- Simulation von Korrekturen
- Berechnung von Fähigkeitskennwerten nach Perzentilemethode
- Unterstützung unterschiedlicher Verteilungsmodelle
- Einfache Erstellung von Prüfberichten im PDF Format
- Export von Messwerten in verschiedenen Datenformaten z.B. CSV und DFQ
Visionsoftware für die Durchführung der Messung.
- Hochgenaue und robuste Korrelationsalgorithmen
- Verbesserte Winkelmessung an Chipbauteilen
- Erhöhte Messgeschwindigkeit bei Prüfplänen mit Clusterlayouts
Die Untersuchung der Messgenauigkeit erfolgt mithilfe einer kalibrierten Messplatte vom Typ MPL00 auf der Grundlage von IPC 9850. Das System erfüllt die dort genannten Forderungen hinsichtlich Messgerätefähigkeit und Reproduzierbarkeit für folgende nachzuweisenden Prozessgrenzen.
Die Messgeschwindigkeit hängt maßgeblich vom Prüflayout ab. Aus diesem Grund beziehen sich die folgenden Angaben auf die Messung mit der MPL00, welche auch zum Nachweis der Messgerätefähigkeit verwendet wird. Für den Test ist die Visionsoftware CmCVis2 gestartet und der Messplattennullpunkt definiert.